产品概述

SunScan冠层分析系统（型号：SS1-STD3）是英国Delta-T公司生产的科研级植物冠层分析仪，专门用于间接测量作物的叶面积指数（LAI）。该系统通过测量光合有效辐射（PAR）在冠层中的传输，结合独特的算法，能够快速、无损地获取作物冠层结构的关键参数。

核心功能与优势

1. 精准测量能力

• ​直接测量参数​：冠层上方入射PAR和下方透射PAR
• ​直接输出参数​：叶面积指数（LAI）
• ​独特参考传感器​：BF5阳光传感器可同时测量直射和散射光组分，无需繁琐的遮光环调整

2. 卓越的环境适应性

• ​全天候工作​：可在多云、晴朗和变化的光照条件下使用（建议近中午时段）
• ​便携耐用​：防水设计，电池供电，适合野外工作
• ​无线选项​：可选434MHz无线电连接，传输距离可达250米（视距）

3. 科研级精度验证

• 2009年《Crop Science》期刊研究证实，SunScan与破坏性取样测量的LAI高度一致（回归斜率=1.00，R²=0.96）
• 特别适合低矮规整冠层​（如各类农作物）的分析表征

系统组成

1. ​主探头​：1米长探头内置64个PAR传感器，可测量线性透射PAR
2. ​手持终端​：坚固耐用的RPDA3 PDA，运行SunData软件，可现场显示、分析和存储数据
3. ​参考传感器​：BF5阳光传感器（可选），用于同步测量冠层上方光环境
4. ​无线模块​：无线电连接套件（可选），免除长电缆困扰

技术特点

• ​测量原理​：基于辐射传输模型和椭球叶角分布参数(ELADP)
• ​数据存储​：内部存储器可存储>100万条读数，支持micro SD卡扩展
• ​应用领域​：作物比较研究、表型分析、生物量评估、栽培处理效应研究

科学研究支持

多项研究表明，SunScan在不同作物和应用场景中均表现出色：

• ​大豆种植​：校准ELADP值后，测量误差仅2.0%
• ​春大豆研究​：成功用于LAI空间变异分析
• ​英格兰林地​：有效监测阔叶林和针叶林的季节性物候变化
• ​加纳玉米地​：在整个生长季提供可靠的LAI估算

选购信息

• ​生产商​：Delta-T Devices（英国）
• ​供应商​：Alpha Omega Electronics（西班牙）
• ​适用对象​：农业科研机构、大学、精准农业实践者、生态监测部门
• 产品资料：
  Delta-T SunScan | 冠层分析系统-科采通

总结

SunScan冠层分析系统是农林业研究中LAI测量的黄金标准工具之一。其科学的设计、坚固的结构和经过验证的精度，使其成为作物生理研究、精准农业和生态系统监测领域的理想选择。无论是用于基础的作物生长研究，还是作为遥感验证的地面真值数据源，SunScan都能提供可靠、高效的解决方案。

​对于需要高质量冠层结构数据的科研工作者和农业技术人员来说，SunScan是一个值得投资的科研工具。​