在做DFT的时候会有多种Fault Models,大多数默认会上Stuck-at and Transition 这两种Fault Models,其余的会根据DPPM要求以及客户的需求来增加Fault Models 和对应的test pattern.
下面来简单介绍下这几种Fault Models:

1. Stuck-at: 来检测post-silicon上tie hight & tie low 的fault.
   

2. At-Speed Fault Models: Transition and Path Delay
   Transition:是通过插入OCC 电路以用于产生Launch & Capture 2 pulse,用这个来测试实际工作频率时的slow-to-rise node & slow-to-fall node .
   
   

   Path Delay: 最大延时路径测试。相对于transition test想去覆盖大多数的function path，delay test更关注critical timing path，生成delay test pattern，一般需要读入一个timing report，里面记录那些slack非常小的path，工具会根据report的begin end point产生pattern
   

3. IDDQ Fault model: 检测不工作时处于稳定状态的fault,漏电流过大，由于当前制成的关系，本身的漏电较大，判断值已不好确定.
   

4. User-Defined Fault Models/Cell-Aware :是在stuck-at & transition 基础的上延申，需要给出具体的定义以及对应的data.